X熒光鍍層測厚儀廣泛應用于各種金屬的單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對于同種元素在不同層的厚度檢測也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達克羅，Nip鍍層測試，包括Ni與P的比例也均可檢測。專業(yè)的多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合先進的光路轉(zhuǎn)換技術、變焦結(jié)構(gòu)設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

技術參數(shù)：測量元素范圍：CI(17)-U(92)

涂鍍層分析范圍：CI(17)/Li(3)-U(92)

分析軟件：EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素和有機物厚度也可分析

測試程式添加：1862條測試程式免費提供，也可編輯新程式

軟件操作：人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤

X射線裝置：升壓發(fā)射一體高分子聚合式W靶微聚焦射線管

接收器：日本東芝正比計數(shù)管，窗口面積≥150mm2

射線準直系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭配黃金準直器

視頻觀測光路系統(tǒng)：垂直光路交換裝置搭載100mm變焦鏡頭

測樣讀取開啟方式：恒壓恒流快門式光閘

濾光片：鋁、空、鎳

準直器 0.2mm 0.5mm；兩準直器任選一種

*近測距光斑擴散度：10%

*小測量面積：約0.04mm2

測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異形樣品，變焦距離0-30mm

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，全局快門，有效像素：1280*960，變焦功能

對焦方式：高敏感鏡頭（無需增加其他輔助傳感器），手動對焦

放大倍數(shù)：光學38-46X，數(shù)字放大40-200倍

樣品臺尺寸：500mm*360mm

樣品可放置區(qū)域：480mm*320mm*205mm（C型開槽設計，特殊測試時可以超出區(qū)域放置樣品）

外部尺寸：540mm*430mm*475mm

移動方式：高精密XY手動滑軌

可移動范圍：40mm*50mm

電源：交流220V 50HZ

功耗：120W（不包括計算機）

冷卻系統(tǒng)：對流通道過濾式風冷

保養(yǎng)升級模塊：軟硬件模塊化

環(huán)境要求：使用時溫度：10℃-40℃ 存儲和運輸時溫度：0℃-50℃ 空氣相對濕度：≤80%

重量：約45KG

隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：電腦一套、噴墨打印機、附件箱